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研究者業績

研究者リスト >> 森 英喜
 

森 英喜

 
アバター
研究者氏名森 英喜
 
モリ ヒデノブ
URLhttp://www.eng.u-hyogo.ac.jp/outline/faculty/mori/index.html
所属兵庫県立大学
部署大学院 工学研究科 電気物性工学専攻
職名助教
学位博士(工学)(東海大学)
J-Global ID200901074568383534

研究キーワード

 
電気工学 ,エネルギー ,半導体 ,放射線

研究分野

 
  • ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 電気電子材料工学 / 

経歴

 
2015年4月
 - 
現在
兵庫県立大学 大学院工学研究科 電気物性工学専攻 助教   
 
2007年4月
 - 
2015年3月
兵庫県立大学 大学院工学研究科 電気系工学専攻 助教   
 
2004年4月
 - 
2007年3月
兵庫県立大学 大学院工学研究科 電気系工学専攻 助手   
 
2003年4月
 - 
2004年3月
- 姫路工業大学 大学院工学研究科 電気系工学専攻 助手   
 

学歴

 
 
 - 
2003年
東海大学 工学研究科 応用理学専攻
 
 
 - 
1998年
東海大学 工学部 原子力工学科
 

委員歴

 
2016年4月
 - 
2018年3月
応用物理学会 関西支部  監事
 

受賞

 
2018年6月
IEEE Kansai Chapter, IMFEDK Best Paper Award,Microscopic characterization of generation lifetime in insulator/semiconductor structure by scanning capacitance microscopy
森 英喜 
 

論文

 
 
Hidenobu Mori   Haruhiko Yoshida   
2022 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)      2022年11月   [査読有り]
 
Haruhiko Yoshida   Hidenobu Mori   
AIP ADVANCES   6(10)    2016年10月   [査読有り]
Contactless capacitance transient techniques have been applied to local mapping of interface traps of a semiconductor wafer. In contactless capacitance transient techniques, a Metal-Air gap-Oxide-Semiconductor (MAOS) structure is used instead of a...
 
Shinobu Onoda   Toshio Hirao   Jamie Stuart Laird   Hidenobu Mori   Hisayoshi Itoh   Takeshi Wakasa   Tsuyoshi Okamoto   Yoshiharu Koizumi   
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms   210 232-236   2003年9月   [査読有り]
In recent years, special interests have been paid to the advantage of using III-V compound semiconductors for the microelectronic and optoelectronic industries because of its high-speed response. Ion beam induced charge (IBIC) and transient-IBIC t...
 
Toshio Hirao   Hidenobu Mori   Jamie Stuart Laird   Shinobu Onoda   Takeshi Wakasa   Hiroshi Abe   Hisayoshi Itoh   
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms   210 227-231   2003年9月
A single-event upset (SEU) is triggered when the amount of charge induced by an energetic ion striking a sensitive area exceeds a critical charge within a given time interval. An accurate understanding of the charge collection processes that give ...
 
JS Laird   T Hirao   S Onoda   H Mori   H Itoh   
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS   210 243-249   2003年9月   [査読有り]
The MeV ion and laser microbeams are the two most commonly used tools for examining the spatial and temporal dependence of charge collection processes that lead to single event phenomena in semiconductor devices. In this paper, we perform a detail...

MISC

 
 
森英喜   吉田晴彦   
兵庫県立大学 知の交流シンポジウム2022   45   2022年9月
 
赤枝 美里   森 英喜   吉田 晴彦   
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 69th      2022年3月   
 
赤枝美里   森英喜   吉田晴彦   
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)   82nd    2021年
 
高見建也   堀川裕貴   森英喜   吉田晴彦   
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)   66th    2019年
 
松田紘明   森英喜   新船幸二   佐藤真一   吉田晴彦   
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)   66th    2019年

講演・口頭発表等

 
 
森英喜   吉田晴彦   
兵庫県立大学 知の交流シンポジウム2022   2022年9月27日   
 
赤枝 美里   森 英喜   吉田 晴彦   
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 69th   2022年3月   
 
赤枝美里   森英喜   吉田晴彦   
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)   2021年   
 
松田紘明   森英喜   新船幸二   吉田晴彦   
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)   2019年   
 
松田紘明   森英喜   新船幸二   佐藤真一   吉田晴彦   
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)   2019年   

所属学協会

 
2006年4月
 - 
現在
日本熱電学会
2000年1月
 - 
現在
IEEE
1998年1月
 - 
現在
応用物理学会

共同研究・競争的資金等の研究課題

 
 
シリコンナノワイヤ表面を用いたシリコン系太陽電池の高効率化に関する研究
日本学術振興会: 科学研究費助成事業 基盤研究(C)
吉田 晴彦 森 英喜 
研究期間: 2018年4月 - 2021年3月